在儀器儀表自動化測試軟件開發領域，測試環節的精準性、兼容性與靈活性直接決定產品迭代效率與市場競爭力。傳統 ATE系統往往受限于單一產品適配、設備兼容量少、維護成本高的痛點，難以滿足多品類、快迭代的測試需求。而納米軟件開發的自動化測試平臺 ATECLOUD，以無代碼搭建為核心，兼容千款設備的廣泛適配性，為電源模塊、半導體芯片、射頻器件等多類產品提供全場景自動化測試解決方案，重新定義了測試平臺的靈活與高效。

零代碼開發平臺

多產品精準適配，測試場景全覆蓋

ATECLOUD 平臺的核心優勢在于其可根據不同測試對象靈活搭建專屬測試系統，實現從電源模塊到射頻器件的全品類覆蓋。在電源模塊測試場景中，平臺通過無代碼拖拽配置，即可聯動程控示波器、可編程電源、電子負載、高精度萬用表等設備，構建完整的電性能自動化測試體系，高效完成電壓穩定性、負載調節率、紋波噪聲等關鍵指標的檢測，無需手動編寫復雜測試腳本。

針對半導體芯片測試的高精準要求，ATECLOUD 搭建的芯片測試系統可無縫控制探針臺、高精度示波器、功率計等專業設備，覆蓋超過 58 項核心測試項目，涵蓋芯片的電氣特性、功耗表現、信號完整性等關鍵維度，確保芯片在量產前的性能驗證全面且可靠。而在射頻器件測試中，平臺通過整合網絡分析儀、頻譜分析儀等專用設備，聚焦 S 參數、增益、噪聲系數等核心指標，為濾波器、放大器等各類射頻器件提供標準化、自動化的測試流程，大幅降低人工操作誤差。

電源模塊測試

千款設備兼容，打破傳統適配壁壘

不同于傳統 ATE 測試系統僅能適配少量特定設備、局限于單一產品測試的弊端，ATECLOUD 平臺在設備兼容性上實現了質的突破。目前平臺已兼容超過 1000 款主流品牌型號的測試設備，涵蓋示波器、電源、負載、探針臺、網絡分析儀等各類測試儀器，覆蓋 Keysight、Tektronix、Chroma 等行業知名品牌，徹底打破了設備型號與品牌的適配限制。

這種廣泛的兼容性讓企業無需為測試平臺更換現有設備，可直接利用存量儀器搭建測試系統，大幅降低硬件投入成本；同時，當企業拓展新測試項目或引入新型設備時，平臺可快速完成適配集成，無需重構測試架構，實現測試能力的無縫擴展，真正做到 “一套平臺，全場景適配”。

設備指令兼容

無代碼核心特性，降低維護與拓展門檻

ATECLOUD 平臺的無代碼搭建模式，為企業測試團隊帶來了革命性的效率提升。傳統 ATE 系統的維護與拓展往往依賴專業開發人員編寫代碼，不僅上手難度高，且后期修改測試流程、新增測試項目時周期長、成本高。而 ATECLOUD 采用可視化拖拽式操作，測試流程搭建、設備參數配置、測試報告生成等全流程無需專業開發知識，普通測試人員經過簡單培訓即可獨立完成。

這一特性讓企業在后期維護中擺脫了對專業開發團隊的依賴，當測試需求發生變化時，可自行調整測試流程、新增測試項目，維修與拓展效率提升數倍；同時，無代碼模式減少了代碼冗余與調試成本，測試系統的穩定性與可復用性顯著提高，為企業長期節省人力與時間成本，助力測試團隊聚焦核心業務創新。

零代碼搭建

ATECLOUD 平臺以無代碼搭建為核心抓手，以千款設備兼容為基礎支撐，以多產品精準適配為應用落地，徹底解決了傳統 ATE 測試系統的靈活性不足、兼容性有限、維護成本高的行業痛點。ATECLOUD 不僅為企業提供了高效、精準、靈活的自動化測試解決方案，更通過降低測試門檻、提升迭代效率，為產業升級注入新動能。